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BCSP光譜儀是一套全波长显微球面光学元件光谱分析仪，能快速准确地测量各类球面/非球面器件的相对/绝对反射率，适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量.
仪器特点
*显微测定微小领域的反射率 物镜对焦于被测物微小区域（φ60μm）；
*CIE颜色测定 X Y色度图，x，y，L,a,b饱和度，主波长等；
*检测速度快 高性能探测器，可在1秒内时间重现性高的测定；
*消除背面反射光 无需进行背面防反射处理即可快速准确地测定表面反射率。
技术参数
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型号
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BCSP（II型）
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BCSP（III型）
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检测范围
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380~880nm
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380~1100nm
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波长分辨率
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1nm
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1nm
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相对检测误差
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﹤1%
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﹤1%
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测定方法
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与标准物比较测定
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被测物再现性
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±0.1%以下(2σ) （380nm~410nm） ±0.05%以下(2σ) (410nm~800nm)
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±0.1%以下(2σ) （380nm~410nm） ±0.05%以下(2σ) (410nm~1000nm)
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单次测量时间
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﹤1s
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精度
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0.3nm
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被测物N.A.
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0.12(使用10×对物镜时) 0.24(使用20×对物镜时)
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被测物尺寸
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直径>1mm
厚度>1mm(使用10×对物镜时)
厚度>0.5mm(使用20×对物镜时)
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被测物
测定范围
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约φ60μm(使用10×对物镜时) 约φ30μm(使用20×对物镜时)
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设备重量
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约30kg（光源外置）
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设备尺寸
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300(W)×550(D)×570(H)mm
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使用环境
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水平且无振动的场所
温度：23±5℃
湿度：60％以下、无结露
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操作系统
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Windows XP, Windows Vista，Win7
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软件
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分光反射率、物体颜色、单层膜厚（有干涉条纹）和镀膜（有干涉条纹）折射率测定
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